第五届中国测试学术会议在苏州举行
更新时间：2008-06-20 12:00:00
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第五届中国测试学术会议在苏州举行
第五届中国测试学术会议于5月21日至23日在苏州国际科技园举行。会议围绕“加强学术界与工业界交流，促进测试技术发展”的主题，邀请国际、国内顶级专家汇聚苏州国际科技园，围绕IC测试、设计验证、电路测试、工程测试和生产测试等议题举办专业技术报告，开展高层次的学术交流。
中国测试学术会议（China Test Conference）是由中国计算机学会举办的专业学术会议，会议范围包括器件、电路板、系统的电子测试；硬/软件的设计验证、测试、诊断、失效分析；可信计算和信息安全。自2000年起，每两年召开一次（逢双年）。
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