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验证与测试子平台

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验证与测试子平台

l  数字、模拟和数模混合集成电路分析验证环境

l  测试仪器与测试系统

l 超大规模数字集成电路FPGA原型验证系统

l 半自动晶圆探针台测试系统

l Agilent 高性能逻辑分析系统16702B

l Agilent 逻辑分析仪1693A

l Agilent 超高频示波器系统54853A

l Agilent 数字示波器54642A

l Agilent 混合信号示波器54621D

l Tektronix数字荧光示波器TDS5034B

l Tektronix 数字示波器TDS2024

l Tektronix可存储电晶体曲线描绘器577D1

l Tektronix直流耦合电流探头TCP202

l Agilent网络分析仪 4395A

l Agilent直流电子负载6060B

l Keithley微安电流表486

l INSTEK数字台式万用表GDM-8055G

l 扬子仪器低电阻测试仪YD2511A

l Agilent信号(函数/任意波形)发生器33220A

l Agilent可编程信号(脉冲/模式/码型)发生器81130A

l Advantest多路电源R6741A

l Agilent 可编程直流稳压电源E3631A

l Agilent直流电源 6038A

l Leica精密光学显微镜系统 INM100

l  芯片及系统分析验证服务

l 上千万门级数字集成电路的FPGA原型验证

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l 版图分析

l  射频集成电路及系统分析、建模、验证和测试环境

l  测试仪器设备

l 矢量信号源Agilent E8267D

l 矢量网络分析仪Agilent E8363B10MHz 40GHz

Agilent 8719ES50MHz 13.5GHz

l 半导体参数分析仪Agilent4156C

l LCRAgilent 4284

l 动态信号分析仪Agilent35670A

l 微波探针台CASCADE Summit11101b

l 射频/微波探针ACP50 GSG100/150

l 校准测试软件CASCADE Wincal

l 参数提取/建模软件Agilent IC-CAP

l 程控调谐器Focus CCMT-708 ×2 (0.8-6.5GHz)

l iCCMT-1808/iCombo0.8-18GHz

l 模拟信号源Agilent E8257C(250K-20GHz)

l  频谱分析仪Agilent4440A3Hz-26.5GHz,加矢量信号分析软件可升级为89650S矢量信号分析仪)

l 实时频谱仪Tektronix RSA3408A

l 双通道功率计Agilent E4419B

l 直流源Agilent6642A66312A          

l WinCCMT / WinNoise软件

l 50GHz在片负载牵引系统 Maury MT984A

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l  芯片工程测试环境   

l  超大规模集成电路测试系统Teradyne Integra J750

l 测试操作系统IG-XL(支持离线操作)

l  192个数字测试通道(数据速率100MHz,向量深度8M LVMSCAN扫描)

l 混合信号测试选件MSOASIO & DSIO

l  其他测试仪器

l Tektronix数字荧光示波器TDS3054B4通道,500MHz带宽,采样速率5GSa/s

l Tektronix可编程信号发生器AFG3101

l  芯片工程测试服务    

l 基于ATE的封装片评测(功能和性能测试)

l 量产测试方案和程序开发

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